НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Выбор типа сигналов

Выбор типа сигналов (рисунок 72) зависит от задачи и объекта исследования. Так топографию поверхности следует изучать в режиме вторичных электронов, а контраст в многофазном материале – в режиме отраженных. Исследование локального химического состава приводит к использованию сигнала рентгеновских фотонов. Возможно одновременное наблюдение в различных сигналах при комплексных исследованиях. Необходимо учитывать ограничения по локальности каждого метода для данных условий наблюдения (например, учитывать размер области генерации рентгеновского излучения, наклон образца, шероховатость поверхности и т. д.).

Рисунок 72 – Изображение многофазного объекта в различных типах сигналов (а – в отраженных электронах, б – отраженные электроны топографический контраст, в – отраженные электроны композиционный контраст, д – изображение во вторичных электронах)