НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

9.3.1 Дифракция из выбранной области

Если освещенная область изображения не ограничивается, при введении диафрагмы, то вы находитесь на слишком высоком увеличении, и его необходимо уменьшить до тех пор, пока вы не сможете увидеть изображение этой диафрагмы на экране ПЭМ.

  • Переместите образец, если это необходимо, чтобы убедиться, что интересующая вас область видна через апертуру.

  • Необходимо сфокусировать селекторную диафрагму, регулируя настройки промежуточной линзы, которая сопряжена с изображение образца, которое мы фокусируем с помощью объективной линзы.

  • Переключитесь в режим дифракции, и картина дифракции из выбранной области появится на экране.

  • Сфокусируйте картину дифракции из выбранной области с помощью ручек фокусировки дифракции, так чтобы дифракционные пятна стали острыми. Также расфокусировка (недофокусировка) C2 может помочь на данном этапе.

  • Если вам необходимо уменьшить область, с которой получается дифракционная картина, просто выберете меньшую по размеру диафрагму.

  • В этих условиях, когда селекторная диафрагма введена, а апертурная диафрагма объективной линзы удалена, все электроны, которые падают на образец за пределами области, определенной виртуальной диафрагмой, попадут на реальную селекторную диафрагму, когда они будут проходить плоскость изображения объективной линзы. Такие электроны, таким образом, будет исключены и не дадут вклад в картину дифракции, проецируемую на экран ПЭМ. На практике мы не можем сделать апертуру меньше ~10 мкм, и виртуальная апертура, уменьшенная в плоскости образца примерно в 25 раз, дает минимальный размер области для получения дифракции ~0.4 мкм – что не всегда достаточно, особенно в случае изучения наноматериалов.

    По аналогии с рентгеновским дифрактометром, мы можем ввести расстояние называемое «длиной камеры» (L). Мы считаем, что эта длина является расстоянием до плоскости экрана (или детектора) от того места где образуется картина дифракции. Для работы мы выбираем значения L такие, чтобы расстояния между пятна или кольцами на картине дифракции были легко различимы на экране ПЭМ или на записывающем устройстве. Это увеличение может быть изменено путем изменений работы промежуточных линз.

    Стоит отметить, что при работе с к/о линзами, калибровка «длины камеры» L может быть проблемой, потому что изменение фокуса конденсорных линз, изменяет дифракционный кроссовер и, если вы фокусируете картину дифракции из выбранной области с помощью промежуточной линзы, то вы изменяете L.