НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Увеличить размер пятна SS =90, увеличение х30х300. Яркость и контрастность контролируется кнопкой ACB .

Максимально осветлить изображение с помощью Shift X , Y

Размер пятна SS =30. Максимально осветлить изображения с помощью Tilt X , Y .

Повторять шаги, начиная с п. 10 несколько раз.

После юстировки прибора можно приступать к работе с образцом.

Вопросы для допуска к лабораторной работе

  • Опишите строение электромагнитной пушки РЭМ
  • Опишите строение колонны РЭМ
  • Опишите порядок замены катода
  • Опишите порядок юстировки электроннооптической системы микроскопа.

Сценарий лабораторной работы

  • Ознакомиться с теоретическим материалом к работе и Правилами техники безопасности
  • Включить РЭМ
  • Установить образец либо держатель образца
  • Заменить катод, провести чистку цилиндра Венельта
  • Установить новый катод
  • Провести юстировку электроннооптической системы РЭМ
  • Извлечь образец
  • Выключить РЭМ
  • Оформить отчет по работе

Контрольные вопросы

  • Какие варианты электромагнитных пушек используются в РЭМ?
  • Каким образом происходит фокусировка на образце и каким образцом меняется увеличение? Зависимы ли они друг от друга?
  • Какие функции выполняют электромагнитные катушки?
  • Какие функции выполняют диафрагмы (апертуры)?
  • Что такое осциллятор объективной линзы? Для чего он необходим?